電磁輻射及熱輻射掃描系統(tǒng) 隨著現(xiàn)代電子系統(tǒng)主頻的提高、集成度的增加、產(chǎn)品體積的縮小，系統(tǒng)內(nèi)部信號產(chǎn)生的電磁輻射也隨之增加，從而產(chǎn)生信號與信號間的電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時會影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性甚至導(dǎo)致功能失效。同樣，由于系統(tǒng)的電磁輻射的增加，會導(dǎo)致系統(tǒng)與系統(tǒng)間產(chǎn)生電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時，會影響另一系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性，甚至導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。為此，產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）指標(biāo)已經(jīng)成為產(chǎn)品能否走向市場的關(guān)鍵。傳統(tǒng)上，要檢驗一個產(chǎn)品是否符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，必須要把產(chǎn)品原型拿到開闊場或EMC實驗室進行測量。如果在測試中發(fā)現(xiàn)問題，就要求重新進行設(shè)計。另外，國際上目前對電子產(chǎn)品電磁兼容的要求描述為各種不同的定義，如：VCCI，ANSI，CISPR，F(xiàn)CC或VDE 等。而這些定義通常針對整個產(chǎn)品或系統(tǒng)，而不是單個電路，電子工程師還沒有一個十分容易的辦法來確定電磁波輻射源。因此傳統(tǒng)的EMC測量只能測量產(chǎn)品的對外輻射的情況，無法測量系統(tǒng)內(nèi)部的輻射及其干擾。如果在測試中失敗，也不能知道究竟是什么原因引起的。 同時由于系統(tǒng)功能的增加和體積的縮小，使得產(chǎn)品的熱輻射問題也成為影響系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素。 大家知道，要看一個信號的完整性問題，我們可以用示波器進行觀測時域下的波形，也可以用頻譜分析儀觀測一個點的電磁輻射的頻率與幅度，但是我們還沒有這樣的設(shè)備，能看到整個空間的或一個信號的整個路徑上的電磁輻射的形狀、方向和幅度，也無法看到整個空間的熱輻射。如果我們有這種能觀測整個空間的電磁輻射和熱輻射的設(shè)備，我們就能準(zhǔn)確地定位導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定的電磁輻射源和熱輻射源了。 EMC Scanner是針對這個想法而設(shè)計的產(chǎn)品。它能使電磁場和熱輻射場“可視化”，利用EMC-Scanner（電磁場輻射和熱輻射掃描儀），您可以很容易地“看到”高頻電磁場了。該系統(tǒng)是一個特別的專門用來測量電磁場輻射源及熱輻射源的位置和強度的精密儀器，并直達元件級，測量結(jié)果以三維或二維彩色圖形直觀顯示。它可對單個電子元器件、PCB板、電纜線及整機系統(tǒng)進行電磁場輻射及熱輻射的精確測量。全套測量系統(tǒng)包括一個可三維運動的機械操作臺、帶近場探頭的頻譜分析儀、GPIB卡和用于通訊和數(shù)據(jù)處理及控制分析的軟件等。 EMC Scanner配備的軟件系統(tǒng)操作簡單，顯示直觀。它能三維立體顯示測量結(jié)果，反映真實輻射狀況。 適用范圍： 1.設(shè)計階段 把該設(shè)備運用于設(shè)計階段，可以幫助你及早發(fā)現(xiàn)問題，及時采取有效措施消除或抑制系統(tǒng)內(nèi)部和對外的電磁干擾，降低熱輻射，確保產(chǎn)品取證EMC測試和環(huán)境測試（高低溫試驗）的一次通過，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計進程，提高產(chǎn)品的設(shè)計質(zhì)量，節(jié)省產(chǎn)品開發(fā)費用，減少產(chǎn)品的售后服務(wù)。 精確定位輻射源，查找被測對象輻射隱患。 精確分析頻譜成份，協(xié)助排除輻射源。 精確測試熱參數(shù)，排除熱輻射引起的不可靠性。 預(yù)掃描測試功能，自動定位主要電磁輻射頻譜成份。 多次測量自動比較，以找出最佳兼容狀況。 用于產(chǎn)品調(diào)試，隨時顯示調(diào)試效果，直觀方便。 用于產(chǎn)品可靠性檢查，排除電磁輻射和熱輻射隱患。 2.生產(chǎn)階段 該產(chǎn)品還可以用在生產(chǎn)階段，有時在生產(chǎn)中，出于降低成本的需要，可能需要更換某些器件或部件（如電源等），在更換時，除了電氣特性要一致以外，其電磁輻射和熱輻射也必須考慮。通過新部件與原部件的電磁輻射圖和熱輻射圖的對比，你可以決定能不能進行更換。 3.品質(zhì)檢查階段 該產(chǎn)品運用于品質(zhì)檢查階段，通過被檢產(chǎn)品與合格產(chǎn)品的電磁輻射圖和熱輻射圖的對比，保證出廠產(chǎn)品的質(zhì)量一致性。 該套系統(tǒng)還提供給您一個特別的FFE(遠場測試模型)功能,利用其遠場測量功能(FFE)，您可以通過近場測量得到其遠場電磁場輻射狀態(tài)(5-10m)，并且將其結(jié)果與預(yù)先制定好的標(biāo) 準(zhǔn)(例如國標(biāo)或軍標(biāo))相比較，以進行電磁場是否達到某項標(biāo)準(zhǔn)的測試，使我們在產(chǎn)品通過最后檢測前就能預(yù)先了解其情況。用戶可以設(shè)定自已的測量標(biāo)準(zhǔn)。 該套系統(tǒng)由以下幾部分組成：個人計算機、頻譜分析儀、近場探頭、掃描器平臺、掃描器與PC通信用的控制卡、計算機與頻譜分析儀進行通信的GPIB卡、近場探頭、Dscan軟件及 Dview軟件。 該掃描器平臺是一個三維的運動機構(gòu)，它使您可以對真正工作狀態(tài)下的設(shè)備進行電磁兼容性測試。它有三種型號可供您選擇： DS642------其最大測量范圍為600mm(L)×400mm(W)×00mm(H) 可同時測量電磁輻射及熱輻射狀態(tài)； DS644------其最大測量范圍為600mm(L)×400mm(W)×400mm(H) 可同時測量電磁兼容及熱輻射狀態(tài)； DS321-------其測量范圍為300mm(L)×200mm(W)×100mm(H) 可同時測量電磁兼容及熱輻射狀態(tài)； EMC-Scanner的優(yōu)點 可以對PCB板、電纜、元器件、整機進行測量，此掃描器為三維運動機構(gòu)； 測量結(jié)果以文檔形式保存,可以二維或三維方式直觀地展示其電磁輻射及熱輻射狀況； 可看到元器件級的電磁輻射，降低了工程技術(shù)人員對高頻電磁場、電磁兼容及熱輻射方面經(jīng)驗的要求； 自動完成三維全方位的測量，節(jié)省了大量的時間； 通過對比測量，以文檔形式記錄設(shè)計改進前后的電磁輻射效果，有利于設(shè)計的改進； 在設(shè)計階段早期發(fā)現(xiàn)潛在的電磁輻射干擾問題，節(jié)省系統(tǒng)聯(lián)調(diào)時間； 對生產(chǎn)線產(chǎn)品進行測量，并與合格樣品進行比較，確保產(chǎn)品合格率； 預(yù)掃描功能可以為您找到應(yīng)該關(guān)心的頻率； 沒有環(huán)境要求，不需要暗室； 系統(tǒng)沒有頻率限制；

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